场发射透射电子显微镜(JEM-F200)

发布时间:2023-04-13    作者:    浏览次数:


D0C3

一、功能特色

本设备搭载场发射电子枪,能达到更高的分辨率。自动化测角台,可实现自动进出样品杆。配备超级能谱仪,能实现快速高精度EDS分析,搭配STEM模式,可进行点、线、面的EDSMapping分析。搭载Gatan底插Rio16相机,能拍摄得到更清晰的高分辨图像。


二、技术参数

电子枪类型:热场发射枪

加速电压:80 – 200 kV

TEM点分辨率:0.23 nm

TEM线分辨率:0.1 nm

STEM分辨率:0.16 nm

放大倍率:MAG模式2000–2M倍;STEM模式100–150M倍

相机:Gatan Rio16相机

能谱:JED-2300T超级能谱仪


三、应用领域

透射电子显微镜已被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-F200因具有较高的分辨率,在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、样品元素分析等方面可以发挥出重要作用。